在tessent软件插入memory bist和boundary scan都可以在rtl级进行,且这样的流程可以让DC综合优化更加方便和简化,即综合的迭代次数更少。但插入memory bist和boundary scan也可以在综合后的netlist进行,然后insert scan chain,因为insert scan chain必须在netlist进行,综合后才会映射到带有scan的D触发器,且insert scan chain的软件DFT compiler集成在Design Compiler中,方便insert scan chain后的再综合。
Memory bist 和insert scan chain的 先后顺序
©著作权归作者所有,转载或内容合作请联系作者
- 文/潘晓璐 我一进店门,熙熙楼的掌柜王于贵愁眉苦脸地迎上来,“玉大人,你说我怎么就摊上这事。” “怎么了?”我有些...
- 文/花漫 我一把揭开白布。 她就那样静静地躺着,像睡着了一般。 火红的嫁衣衬着肌肤如雪。 梳的纹丝不乱的头发上,一...
- 文/苍兰香墨 我猛地睁开眼,长吁一口气:“原来是场噩梦啊……” “哼!你这毒妇竟也来了?” 一声冷哼从身侧响起,我...
推荐阅读更多精彩内容
- NVIDIA上海办公室,作为NVIDIA全球核心的研发中心之一,现开放芯片类社招职位如下,有兴趣的朋友欢迎通过发送...
- 一、DFT概念:可测试性设计 狭义理解:是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于...
- “火山论剑”之且用且珍惜- 浅说DFT工程师三大法宝的使用2014-12-17 Kevin BriteASIC ...